聯(lián)系人:陳勇兵 (先生)
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ICT在線測試儀第一品牌【捷甫,陳先生,13392835889】過爐治具價格,深圳過爐治具供應(yīng)商,ICT在線測試儀公司,ICT在線測試儀價格,深圳ICT在線測試儀公司。
ICT在線測試儀要求每一個電路節(jié)點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高,功能越來越強,封裝越來越小,SMT元件的增多,多層板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一個節(jié)點放一根探針變得很困難,為增加測試點,使制造費用增高;同時為開發(fā)一個功能強大器件的測試庫變得困難,開發(fā)周期延長。為此,聯(lián)合測試組織(JTAG)頒布了IEEE1149.1測試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個掃描器件的幾個重要特性。首先定義了組成測試訪問端口(TAP)的四(五〕個管腳:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。測試方式選擇(TMS)用來加載控制信息;其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式,主要有外測試(EXTEST)、內(nèi)測試(INTEST)、運行測試(RUNTEST);最后提出了邊界掃描語言(Boundary Scan Description Language),BSDL語言描述掃描器件的重要信息,它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型,定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串行移位寄存器(SSR)的單元相接,稱為掃描單元,掃描單元連在一起構(gòu)成一個移位寄存器鏈,用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務(wù)。 邊界掃描技術(shù)解決了無法增加測試點的困難,更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產(chǎn)生測試圖形的方法,利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測試圖形,如Teradyne的Victory,GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復(fù)雜測試庫的困難。
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